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    2657A高功率數字源表詳細技術參數

    2024-12-19

    2657A高功率數字源表是Keithley(吉時利)公司推出的一款高性能測試儀器,主要用於對高功率半導體器件進行I-V參數測試和特性分析。該儀器支持最大3000V電壓和120mA電流,測量分辨率高達1fA/100nV。它可提供180W的直流或脈衝功率,並具備雙22位積分式ADC和雙18位高速ADC,實現高精度和高速瞬態捕獲。此外,2657A還內置TSP Express軟件,支持遠程控製和自動化測試,兼容LXI Class C標準,並具備多種數字I/O接口和USB端口。以下是該儀器的詳細技術參數:

     

    一、基本性能參數

    1、型號:2657A

    2、通道數:單通道

    3、最大電流源/量程:120mA

    4、最大電壓源/量程:3000V

    5、測量分辨率(電流/電壓):1fA(電流)/100nV(電壓)

    6、源或阱能力:提供或同步高達180W的DC或脈衝電源(±3000V@±20mA,±1500V@±120mA)

    7、典型脈衝時間:3kV下15ms;1kV下5ms

     2657A.jpg


    二、電氣性能參數

    1、電流源精度

    * 量程:1nA至120mA

    * 編程分辨率:30fA至3μA

    * 源精度(±%rdg+A):0.1%+2E-12+VoE-15(低量程)至0.03%+36μA(高量程)

    * 積分ADC精度(±%rdg+A):0.1%+6E-13+VoE-15(低量程)至0.02%+24μA(高量程)

    * 高速ADC精度(±%rdg+A):0.2%+6E-13+VoE-15(低量程)至0.08%+800nA(高量程)

     

    2、電壓源精度

    * 量程:200V至3000V

    * 編程分辨率:5mV至80mV

    * 源精度(±%rdg+V):0.03%+50mV(低量程)至0.03%+750mV(高量程)

    * 積分ADC精度(±%rdg+V):0.025%+50mV(低量程)至0.025%+600mV(高量程)

    * 高速ADC精度(±%rdg+V):0.05%+100mV(低量程)至0.05%+1.2V(高量程)

     

    3、顯示分辨率

    * 電流:1fA至100nA(不同量程下有所不同)

    * 電壓:100μV至1mV(不同量程下有所不同)

     

    4、噪聲

    * 典型電壓源噪聲:量程的0.005%

    * 典型電流源噪聲:量程的0.08%

     

    5、設置時間

    * 典型電壓源設置:<1ms至200V,<7ms至3000V

    * 典型電流源設置:<5ms至120mA,<200ms至1μA

     

    三、吉時利2657A其他性能參數

    1、采樣與數字化

    * 雙22位精密ADC,用於高精度測量

    * 雙18位每點1μs數字化儀,用於高速瞬態捕獲

    * 1μs每點采樣,18bit分辨率,可以對瞬態現象進行精確的特性分析

     

    2、觸發與同步

    * TRIGGER IN到TRIGGER OUT:0.5μs(典型值)

    * 單節點或多節點同步源變化:<0.5μs(典型值)

     

    3、軟件與接口

    * 包括TSP Express特性測試軟件、Labview驅動和Keithley ACS測試軟件支持

    * TSP技術支持創建並運行自定義的用戶測試腳本,用於實現高速自動化測試

    * USB 2.1主控製器,支持外部數據存儲

    * PC接口:IEEE-488.1和.2、LXI CLASS C以太網、RS-232

    * 數字I/O接口:14個漏極開路I/O位,最大5.25V

     

    4、電源與冷卻

    * 電源:100V至250V交流,50Hz–60Hz(自動檢測),功率550VA

    * 冷卻:強迫風冷,側麵和頂部吸氣,後部排氣

     

    5、物理特性

    * 尺寸:高89mm×寬435mm×深549mm(3.5in×17.1in×21.6in)(不包括突出部分)

    * 重量:9.98KG(22lbs)

    * 使用環境:僅適合室內使用

     

    四、應用特性

    1、功率半導體器件表征和測試:適用於高亮度LED、功率半導體器件(如功率MOSFET和BJT雙極晶體管)、DC-DC變換器、電池等。

    2、新材料與器件測試:支持GaN、SiC和其他化合物材料和器件的特性分析。

    3、擊穿電壓測試:可測試晶體管和MOSFET的擊穿電壓。

    4、瞬態現象分析:亞毫秒級瞬態現象的特性分析。

     

    五、其他注意事項

    1、校準周期:建議每年進行一次校準,以確保儀器的準確性和可靠性。

    2、安全性:符合歐盟EMC指令和低壓指令,ETL列出(待確認)。

    3、質保期:通常為1年,具體以購買合同為準。

     

    2657A高功率數字源表具有高精度、高速度、高可靠性和多種測試功能等特點,適用於各種高功率半導體器件的測試和分析。用戶在使用時應根據具體測試需求選擇合適的量程和參數設置,並遵循儀器的操作手冊和安全規範進行操作。

    文章來源測試儀器

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