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2024-12-05
TH500係列功率半導體器件PIV測試係統是常州同惠電子股份有限公司推出的一款專業測試軟件。該係統能夠針對功率半導體器件進行精確的PIV(脈衝離子電壓)測試,具有高精度、高穩定性和易操作等特點。通過模擬實際工作場景中的電壓、電流等條件,該係統可以全麵評估功率半導體器件的性能參數,如開關速度、功耗等,廣泛應用於電力電子、新能源等領域,對於保障器件質量和可靠性具有重要意義。
1、係統概述:
設備用途:TH500係列功率半導體器件PIV測試係統主要用於高壓功率器件的靜態特性及可靠性測試。
測試原理:通過在一定偏置下對被測器件提供高壓脈衝信號(Pulse-IV),模擬器件快速開關過程,測試器件工作過程中的性能變化情況。
2、係統組成:
柵極探頭指標:詳細列出了柵極探頭的工作條件,包括編程電壓範圍、脈衝幅度、脈衝電流、直流/有效值電流、脈衝功率、直流功率等參數。
漏極探頭指標:詳細說明了漏極探頭的工作條件,包括電壓量程、電流量程、ADC分辨率、建立時間、恢複延遲、帶寬等參數。
3、技術參數:
柵極探頭技術參數:編程電壓範圍為-25V+25V,脈衝幅度最大為30V,脈衝電流輸出或輸入最大有效值為±1A,直流/有效值電流為±300mA,脈衝功率為10W,直流功率輸出為3W,輸入為0.5W。
漏極探頭技術參數:電壓量程為25V,電流量程為1A、10mA、100μA,ADC分辨率為16位,建立時間到99.9%為250ns至4μs/400μs不等,恢複延遲為0.6μs至1μs不等,帶寬-3dB為14MHz至1.3MHz不等。
4、應用領域:
測試條件:提供固定靜態偏置點進行窄脈衝動態IV測量,滿足準等溫測試條件。
寄生效應測量:實現器件寄生效應的量化測量與數據運算。
脈衝寬度:脈寬最小低至200ns,適用於快速開關過程的測試。
5、性能特點:
同步能力:具有內部和外部同步能力,便於與其他設備協同工作。
時序設置:支持脈衝時序設置和時域波形記錄,便於分析和優化測試過程。
互聯能力:可與socket&半自動探針台互聯,進行封裝以及晶圓級芯片測試,提高測試效率和準確性。
6、係統附件:
附件列表:包括三芯電源線、三端器件測試夾具、探頭通信線纜、漏極供電線纜、柵極探頭輸出轉BNC適配器等隨機附件。
7、物理參數:
尺寸與重量:提供了不同型號設備的體積和淨重信息,便於用戶根據實際需求選擇合適的設備。
8、保護電路:
內部保護:係統內置保護電路,確保在測試過程中對被測器件和測試設備的安全保護。
9、操作與配置:
可編程性:係統支持多種可編程設置,如電壓輸出範圍、脈衝寬度、上升/下降時間等,滿足不同測試需求。
分辨率與精度:提供了高分辨率和高精度的測量能力,確保測試結果的準確性和可靠性。
10、用戶友好性:
界麵與操作:係統界麵友好,操作簡便,便於用戶快速上手和高效測試。
整體總結:
TH500係列功率半導體器件PIV測試係統是一款功能強大、操作簡便的測試設備,適用於高壓功率器件的靜態特性及可靠性測試。係統提供了豐富的技術參數和性能特點,包括高分辨率、高精度、多種可編程設置等,能夠滿足不同測試需求。同時,係統還支持內部和外部同步、脈衝時序設置和時域波形記錄等功能,提高了測試效率和準確性。此外,係統還內置了保護電路,確保測試過程中的安全性。
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